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Amplificador de feedback Quad-PID

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Zurich Instruments ha anunciado la adición a su amplificador de feedback Quad-PID con capacidad PLL, modelo MFLI, con la opción MF-PID para cuatro controladores PID (proportional – integral – derivative) independientes, un amplificador lock-in de 500 kHz / 5 MHz.

La opción MF-PID se erige sobre especificaciones de primera clase de la MFLI, como bajo ruido de entrada de 2,5 nV/√Hz, y una reserva altamente dinámica de 120 dB.

Cada controlador está perfectamente integrado con el amplificador de bloqueo, utilizando entradas de una multiplicidad de fuentes de datos de medición internas y señales de entrada analógicas. El ancho de banda máximo del bucle de control es de 50 kHz.

Cuando se configura un nuevo bucle de control, el usuario se encuentra bien soportado por el LabOne PID-Advisor, el cual ofrece una selección de modelos que pueden ser seleccionados y ajustados para disponer de coincidencia con distintas aplicaciones.

Después de definir el ancho de banda objetivo, el PID-Advisor sugiere un conjunto de parámetros y muestra de forma gráfica la correspondiente función de transferencia y step-response.

Una vez que este amplificador de feedback Quad-PID con capacidad PLL está funcionando, la función auto-tune optimiza los parámetros para minimizar el error PID residual.

Amplificador de feedback Quad-PIDEl conjunto de herramientas de software incluida en LabOne también ofrece un barrido paramétrico, osciloscopio y analizador de espectro. Estas herramientas pueden ser utilizadas para analizar de forma eficiente el rendimiento del bucle y compararlo con el modelo seleccionado.

En el modo de bucle de bloqueo de fase (PLL), el desenrollado de fase extiende el rango de entrada a ±1024π, lo que significa una retroalimentación fiable en el arranque y un rendimiento robusto.

Usos para el amplificador de feedback Quad-PID

Entre las varias aplicaciones que podemos dar al MF-PID, se encuentran peines de frecuencias, bloqueos de transferencia de frecuencia, cancelación del ruido de fibra óptica, AFM (atomic force microscopy), STM (scanning tunneling microscopy), SNOM (scanning near-field optical microscopy), y resonadores y giroscopios MEMS.

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