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Analizador de capacitancia

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Analizador de capacitancia

Agilent Technologies presenta el primer analizador de capacitancia para dispositivos de potencia que caracteriza de forma automática las capacitancias de uniones de dispositivos de potencia utilizando tensiones de funcionamiento reales.

A medida que se extiende el uso de dispositivos de potencia fabricados con materiales emergentes, como SiC y GaN, las fuentes de alimentación conmutadas funcionan a frecuencias cada vez más elevadas. Por ese motivo nunca había sido tan importante obtener una caracterización precisa de la capacitancia de los dispositivos.

El analizador de capacitancia para dispositivos de potencia B1507A de Agilent está perfectamente equipado para abordar esta tarea, puesto que es capaz de evaluar de forma exacta y automática las capacitancias de entrada, de salida y de transferencia inversa de los dispositivos de potencia.

Ofrece una solución completa para medir y evaluar todos los parámetros de las fuentes de alimentación conmutadas de alta frecuencia. Las capacidades de medida incluyen tres capacitancias terminales (Ciss, Coss y Crss) con polarización de alta tensión (±3 kV), resistencia en las puertas y corriente de fuga y tensión de ruptura precisas, complementando el equipo de pruebas de tipo trazador de curvas, que solo es capaz de evaluar las características básicas de corriente y tensión.

Una intuitiva interfaz de usuario gráfica con un diseño exclusivo hace que hasta un usuario novel pueda medir automáticamente y sin problemas todas las capacitancias en un amplio rango de tensiones de funcionamiento.

Usos del analizador de capacitancia

Gracias a estas capacidades y ala sencillez de uso, el nuevo analizador B1507A es idóneo para ayudar a los diseñadores de circuitos electrónicos de potencia a seleccionar los dispositivos óptimos para sus circuitos electrónicos de potencia y a los fabricantes de productos electrónicos de potencia a maximizar el valor y las prestaciones de los productos mediante la identificación de las características detalladas de los dispositivos.


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