Maria Camara

Fuente medidor para test de semiconductores

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Nuevo Sourcemeter de alto voltaje optimizado para test de semiconductores de alta potencia.

idm, Instrumentos de Medida anuncia la nueva fuente medidor para test de semiconductores de alto voltaje fabricada por Keithley Instruments, modelo 2657A.

Incorpora la función de alto voltaje a la familia de Unidades Fuente Medida (SMU) de precisión y alta velocidad SourceMeter Serie 2600A. Estos instrumentos permiten a los usuarios caracterizar un rango incluso mayor de dispositivos semiconductores de potencia y materiales.

Una fuente integrada de 3.000 V, 180 W permite al Modelo 2657A generar hasta 5 veces más de potencia a un dispositivo bajo test. La tecnología de medida de alta velocidad y precisión hasta 6-1/2 dígitos presente en el equipo permite una sensibilidad de medida de corriente de 1 fA (femtoamperio) para adaptarse a los requisitos de bajas fugas en la nueva generación de dispositivos semiconductores de potencia.

Está optimizado para aplicaciones de alto voltaje tales como ensayo de dispositivos semiconductores de potencia, incluyendo diodos, FETs e IGBTs, así como caracterización de nuevos materiales como Nitruro de Galio (GaN), Carburo de Silicio (SiC), y otros materiales y dispositivos semiconductores compuestos. También es útil para caracterizar transitorios de alta velocidad y llevar a cabo ensayos de fugas y rotura en una variedad de dispositivos electrónicos hasta 3.000 V.

Fuente medidor para test de semiconductores Al igual que el resto de la Serie, ofrece funcionalidad de fuente/carga de voltaje y corriente en los cuatro-cuadrantes, acoplado con un medidor de voltaje y corriente de precisión altamente flexible.

Combina la funcionalidad de múltiples instrumentos en un equipo simple de rack completo: instrumento de caracterización de semiconductores, fuente de alimentación de precisión, fuente de corriente ideal, DMM de 6-1/2 dígitos, generador de forma de onda arbitraria, generador de pulsos de voltaje y corriente, carga electrónica, y controlador de trigger, además de ser completamente ampliable en un sistema multi-canal sincronizado mediante la tecnología TSP-Link de Keithley.

Puede generar o absorber hasta 180 W de potencia DC (±3.000 V @ 20 mA, ±1500 V @ 120 mA).

La caracterización de dispositivos básicos puede llevarse a cabo sin necesidad de instalar software o programación con el TSP Express, una utilidad de test I-V basada en la tecnología LXI de Keithley.

Los usuarios pueden conectar un PC al puerto Ethernet-LXI del 2657A y acceder al TSP Express con cualquier navegador web con motor Java. Los resultados del test pueden verse tanto en formato gráfico como tabular, y exportarse a fichero .csv para usarse con programas de cálculo.

Se proporcionan dos herramientas adicionales para crear secuencias de test: el software Test Script Builder (para crear, modificar, depurar, ejecutar y controlar códigos de programa TSP), y un driver LabVIEW (para simplificar la integración del Modelo 2657A en programas de test LabVIEW). El software Test Script Builder tiene nuevas funciones de depuración que permiten desarrollos de programas más fáciles y productivos.

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