Anritsu presenta el módulo de calibración optoelectrónica MN4765B para sus analizadores de redes vectoriales de la serie MS4640B VectorStar, obteniendo así una solución económica y flexible para mediciones en componentes y transceptores de 40 Gb/s.
El módulo de calibración optoelectrónica, al funcionar como receptor óptico, permite que los ingenieros utilicen la serie MS4640B para realizar mediciones optoelectrónicas muy precisas y estables en moduladores láser y fotorreceptores durante I+D y fabricación. También se puede utilizar con el analizador de redes vectoriales para caracterizar transmisores, receptores y transceptores ópticos.
La caracterización de magnitud y fase se obtiene utilizando un estándar primario mediante NIST y realizado en el laboratorio de calibración de Anritsu. El resultado es una mejora en la incertidumbre de la medición cuando el módulo de calibración optoelectrónica MN4765B se usa junto con el VectorStar dentro del amplio rango de frecuencias del analizador de redes vectoriales, entre 70 kHz y 70 GHz.
El módulo MN4765B está estabilizado térmicamente para eliminar la deriva en el rendimiento del fotodiodo respecto a la temperatura e incorpora en su diseño circuitería adicional para mayor estabilidad respecto a temperatura y polarización. El fotodiodo de InGaAs tiene una excepcional respuesta de ancho de banda hasta 70 GHz y una capacidad de respuesta típica de 0,7 A/W.
De esta forma, el nuevo módulo de calibración optoelectrónica complementa el rendimiento general del analizador de redes vectoriales MS4640B VectorStar, que cubre el rango más amplio en un único instrumento, de 70 kHz a 70 GHz, y puede llegar hasta 145 GHz en una configuración de banda ancha. El analizador de redes vectoriales MS4640B también tiene un rango dinámico superior de hasta 142 dB.
Aplicaciones para el módulo de calibración optoelectrónica
Los analizadores de redes vectoriales de la serie MS4640B VectorStar, cuando han sido calibrados con el módulo MN4765B, permiten medición de la función de transferencia con corrección de errores, retardo de grupo y mediciones pérdidas de retorno de componentes y subsistemas electroópticos y optoelectrónicos.
