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Módulos ópticos de elevada sensibilidad

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Módulos ópticos de elevada sensibilidadTektronix, representada por ADLER Instrumentos, presenta nuevos módulos ópticos de elevada sensibilidad para su osciloscopio de muestreo DSA8300 que cuentan con la más alta sensibilidad de prueba de la máscara de la industria y el menor ruido junto con nuevas características que aumentan la capacidad de producción y mejoran el rendimiento para los diseños actuales de 100G que entran en producción.Los nuevos módulos y capacidades, junto con el conjunto completo de soluciones Tektronix para la caracterización óptica y validación 100G / 400G, se mostrarán en la conferencia y exposición de comunicaciones ópticas OFC, que tendrá lugar hasta el 23 de marzo de 2017 en Los Angeles, California.

“A medida que los diseños 100G pasan a la producción, los rendimientos de la fabricación se vuelven primordiales”, dijo Brian Reich, director general de Performance Oscilloscopes de Tektronix. “Nuestro menor ruido inherente permite una mayor confianza en los resultados de las pruebas e impulsa la mejora en los rendimientos de fabricación de componentes ópticos e interconexiones. Al mismo tiempo, seguimos el camino hacia 400G con herramientas y características integrales para un análisis en profundidad y depuración efectiva en una nueva generación de transmisión de datos”.

Uso de los módulos ópticos de elevada sensibilidad

Cuando se instalan en los osciloscopios de muestreo DSA8300, los nuevos módulos ópticos 80C17 y 80C18 proporcionan una sensibilidad de prueba de máscara de -14 dBm que supera los requisitos para los estándares PAM4 de 28 GBd, ofreciendo el mejor rendimiento de ruido de la industria en 3,9 μW con soporte de longitud de onda amplia.

El modelo 80C18 de dos canales permite a los ingenieros de pruebas para fabricación de equipos de fibra óptica duplicar el rendimiento y aumentar la capacidad.

Si falla un dispositivo, el fabricante ofrece herramientas de análisis para descomponer el contenido de la señal tanto para el ruido como para el jitter, para ayudar a los ingenieros a entender el problema subyacente.

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