La versión de bajo consumo se instalará en paralelo a la versión de consumo normal, que ya se encuentra instalada en la misma factoría.
Keithley Instruments ha anunciado la recepción de pedidos adicionales del sistema de test paramétrico S530 por parte de X-FAB Silicon Foundries, una fundición alemana para dispositivos analógicos y de señal mixta, y sistemas micro-electromecánicos (MEMS).
X-FAB ha encargado versiones de bajo consumo del sistema de test paramétrico S530 para instalarlas en su centro de producción principal en Kuching, Malaysia, en el cual ya se encuentran instaladas las versiones de alta tensión de los sistemas S530.
El Keithley S530 Parametric Test System proporciona un coste de propiedad extraordinariamente bajo, principalmente para las fábricas de semiconductores que requieran realizar pruebas de alto rendimiento a través de una amplia combinación de productos o donde la flexibilidad de la diversidad de aplicaciones y el desarrollo de un planeamiento de tests rápidos sea crítica.
La configuración de bajo consumo (200 V) del sistema de test paramétrico es utilizada típicamente para CMOS estándar, MEMS bipolar, y otros procesos de semiconductores relativos a bajo voltaje. La versión de alta potencia (1 kV) está optimizada para los difíciles tests de averías y fugas que demandan los dispositivos de potencia GaN, SiC, y Si LDMOS.
Usos del sistema de test paramétrico
Steffen Richter, group manager de X-FAB para la monitorización de los procesos de control, presentó un paper sobre el esfuerzo conjunto de la misma X-FAB y Keithley en la correlación inicial S530 y el proyecto de optimización de la velocidad, durante el 16 European Manufacturing Test Conference (EMTC) que se celebró en Grenoble (Francia) entre el 7 y el 9 de Octubre.
Dicho paper se titula “Optimizing Automatic Parametric Test (APT) in Mixed Signal/MEMS Foundry” y ha sido co-escrito por el propio Richter junto a Alex Pronin, líder de ingeniería de aplicaciones de Keithley Instruments.
