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Multímetro para debugado de PCBs

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Con amplias posibilidades de frecuencias de testeo, este multímetro para debugado de PCBs MM 12 permite realizar mediciones de LCR, ESR entre otras.

La compañía Siborg Systems ha lanzado al mercado su nuevo multímetro de la gama LCR-Reader, el LCR-Reader-MP.

Este presenta una exactitud básica del 0,1%, así como varias funcionalidades que le permiten realizar tests de circuitos y componentes.

Entre dichas funcionalidades, tenemos las mediciones LCR, ESR y de LED/diodo automáticas y manuales, así como el testeo continuo de diodos/LED. También contamos con mediciones de voltaje AC/DC, y generador de señal con formas de pulso de seno, triángulo, y rectángulo.

Los usuarios de este multímetro para debugado de PCBs también pueden realizar mediciones de frecuencia, periodo de pulso, y ciclo de trabajo. El voltaje transitorio del osciloscopio es de hasta 100 kHz.

Esta última es una de las más importantes funcionalidades según la compañía fabricante, permitiendo una resolución de 1 nH mientras se mide la inductancia, y 0,01 pF para la capacitancia.

Dispone de dos niveles de señal de testeo, reducción automática de la señal de testeo a 0,1 V para mediciones en el circuito, visualización de componentes de impedancia activa y reactiva, mide componentes de tamaño 0201 (sobre 0,3 mm), y dispone de una batería de ión de litio para cargar mediante un micro-USB.

Trabajando con el multímetro para debugado de PCBs

Multímetro para debugado de PCBsEste multímetro de Siborg se controla mediante un sistema de navegación jog-wheel que facilita la realización de scroll a través de los parámetros que se deseen para cualquier tarea.

El modo Large Cap permite medir capacitancias grandes y súper grandes de hasta 600 mF, ofreciendo un amplio rango de frecuencias de testeo (25, 100, 120 Hz, 1, 10, 20, 30, 40, 50, 60, 75 y 100 kHz).

Cuando se testean condensadores electrolíticos, el MP mide a 120 Hz con la ESR medida a 100 kHz, de acuerdo a las condiciones regulares del condensador electrolítico. El dispositivo reduce automáticamente la frecuencia de testeo a 25 Hz cuando se está utilizando el modo Large Cap. Esto permite una mejor exactitud cuando se está llevando a cabo el test.


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