Inicio A Portada Unidades de inserción de fallos MEMS MultiGBASE-T1 40-205 y 42-205

Unidades de inserción de fallos MEMS MultiGBASE-T1 40-205 y 42-205

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Las nuevas unidades de inserción de fallos MEMS MultiGBASE-T1 40-205 y 42-205 destacan por su elevada velocidad de conmutación, baja pérdida de inserción y una vida útil superior a 3 mil millones de operaciones.

El nuevo modelo 40-205 (PXI) y su versión 42-205 (PXIe) de Pickering Interfaces representan las unidades de inserción de fallos (FIU, por sus siglas en inglés) con mayor ancho de banda desarrolladas por la compañía hasta la fecha, al incorporar tecnología de conmutación MEMS (Micro-Electro-Mechanical Systems) que mejora significativamente el rendimiento y la durabilidad de los sistemas de test.

Unidades de inserción de fallos MEMS MultiGBASE-T1 40-205 y 42-205

Dichas unidades están diseñadas para simular fallos comunes en protocolos de comunicación de alta velocidad y cumplen con los requisitos de prueba más recientes del estándar MultiGBASE-T1, utilizado en aplicaciones de Ethernet automotriz, aeroespacial e industrial.

Alta velocidad y larga vida útil para sistemas PXI

La arquitectura basada en MEMS ofrece una velocidad de conmutación de 50 µs en los canales de señal, lo que incrementa el rendimiento general del sistema de prueba y reduce los tiempos de test.

Además, los módulos alcanzan una vida operativa superior a 3 mil millones de operaciones, prolongando la vida útil del sistema y minimizando el mantenimiento preventivo en entornos de test continuo o automatizado.

Las unidades de inserción de fallos MEMS MultiGBASE-T1 40-205 y 42-205 proporcionan canales de señal de dos hilos con impedancia controlada, permitiendo la simulación de fallos en controladores ADAS (Advanced Driver-Assistance Systems) y en otros componentes de redes Single Pair Ethernet (SPE), que pueden alcanzar velocidades de transmisión de hasta 10 Gbps.

Compatibilidad con Ethernet automotriz y monitorización de estado

El diseño modular admite de cuatro a ocho canales con soporte para protocolos que van desde 10BASE-T1 hasta 10GBASE-T1, en un único producto que facilita la actualización de los sistemas de test a medida que evolucionan los estándares.

Los canales ofrecen baja pérdida de inserción y excelente relación de onda estacionaria (VSWR), manteniendo unas características de RF repetibles y estables más allá de los 6 GHz, gracias a la colaboración con Menlo Micro, especialista en conmutadores MEMS.

Los buses de fallo, con capacidad para transportar 1,6 A, permiten aplicar cortocircuitos o resistencias entre canales y establecer conexiones externas de fallo mediante relés electromecánicos de cambio (EMR) integrados. Cada canal admite hasta 0,5 A y 100 V entre pares de hilos, garantizando una gran versatilidad en entornos de validación eléctrica.

Interfaz adaptable y configuración flexible

Los módulos incluyen una interfaz de conector de alta velocidad que se adapta a accesorios de ruptura con conectores Rosenberger H-MTD para los canales de señal, junto con un conector D-sub de 9 vías destinado a los buses de fallo.

Los accesorios pueden instalarse en estanterías de armario o montarse en paneles estándar de 19” y 1U, asegurando una integración sencilla en bancos de prueba PXI o racks industriales.

Asimismo, las unidades incorporan una función de conteo de ciclos de relé para la monitorización del estado de los contactos. Esta característica permite redistribuir las señales entre rutas más o menos utilizadas, optimizando el uso y extendiendo la vida útil de los componentes mecánicos.

Gracias a su combinación de alta velocidad, baja pérdida y fiabilidad extrema, las unidades de inserción de fallos MEMS MultiGBASE-T1 40-205 y 42-205 se consolidan como una solución ideal para laboratorios de validación de hardware, pruebas HIL y sistemas de test automotriz o industrial de última generación.

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