Junto al hardware adecuado, este software de testeo paramétrico KTE 7.1 ofrece mayor rendimiento que la precedente versión, y nuevas funcionalidades.
Tektronix, compañía norteamericana especializada en soluciones de testeo, medición y monitorización, presenta el nuevo software KTE 7.1 para el sistema de testeo paramétrico de la serie Keithley Instruments S530.
Gracias a dicho software, el S530 es capaz de acelerar la fabricación de semiconductores para chips, lo cual llega en un momento muy necesario a medida que más y más fabricantes se van quedando sin suministro de microprocesadores debido a la situación coyuntural post-pandemia.
Como en cualquier otro software nuevo, el KTE 7.1 incorpora nuevas funcionalidades y opciones, tales como la nueva capacidad de testeo en paralelo, una opción de prueba para capacitancia de alto voltaje para potencia emergente, y aplicaciones de banda prohibida.
También mejora los tiempos de testeo en un 10% si lo comparamos con la versión 5.8 del mismo programa, lo cual redunda en una reducción del ‘downtime’ y en el incremento de la velocidad de producción de chips.
El nuevo diseño de la cabecera de pruebas facilita el uso de distintas tarjetas de sonda. Tanto el hardware como el nuevo software de testeo paramétrico KTE 7.1 permiten la realización de pruebas en una sola pasada con un alto rendimiento.
También permite acortar el tiempo dedicado a la calibración reduciéndolo a menos de ocho horas gracias a la SRU (System Reference Unit). Esto permite terminar la calibración en un turno regular de trabajo.
Otras funciones interesantes
La funcionalidad de testeo paralelo también le permite incrementar el rango un 30% (siempre dependiendo de los tests y las estructuras). La arquitectura hardware del S530 le permite soportar hasta ocho SMUs de alta resolución para conectarse con cualquier pin de pruebas a través de cualquier puerto o fila Kelvin disponible en el sistema.
Finalmente, la opción especial HVCV (High Voltage Capacitance Voltage) ofrece una combinación única en la industria consistente en una solución de prueba de una sola pasada capaz de realizar la medición de entre 200 y 1.000 voltios, con lo que proporciona la habilidad de realizar pruebas de capacitancia con un sesgo de hasta 1.100 VDC.
Esta última capacidad permite la medición de Cdg, Cgs, y Cds con precisión para soportar la caracterización y testeo de la entrada de potencia del dispositivo, y de su rendimiento de salida transiente.
Podemos encontrar toda la información relativa al sistema de testeo paramétrico podemos encontrarla aquí.
