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Analizador de ruido de fase para caracterización

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El fabricante anuncia el analizador de ruido de fase 53100A para caracterización de osciladores de precisión que combina tecnologías de temporización en un instrumento de medición más pequeño y con mayor rendimiento.

Para ayudar a los ingenieros de investigación y fabricación a realizar mediciones precisas y precisas de las señales de frecuencia, incluidas las generadas por relojes atómicos y otros módulos y subsistemas de referencia de frecuencia de alto rendimiento, Microchip Technology presenta un nuevo analizador de ruido, un instrumento denominado 53100A para realizar pruebas de ruido de fase en laboratorios.

En principio, este analizador de ruido de fase se diseñó para su uso por ingenieros y científicos que necesitan mediciones precisas y señales de frecuencia generadas para redes 5G, centros de datos, sistemas de aviones comerciales y militares, vehículos espaciales, satélites de comunicaciones y aplicaciones de metrología.

Capaz de medir señales de radiofrecuencia (RF) de hasta 200 MHz, el nuevo instrumento de pruebas adquiere rápidamente señales de frecuencia y caracteriza el ruido de fase, la fluctuación de fase, la desviación de Allan (ADEV) y la desviación de tiempo (TDEV) de forma rápida y precisa.

Todos los atributos de una referencia de frecuencia se pueden caracterizar completamente con un solo instrumento en cuestión de minutos.

Posibilidades para su utilización por los técnicos

El analizador de ruido de fase anunciado permite una variedad de configuraciones al permitir que hasta tres dispositivos separados se prueben simultáneamente usando una sola referencia, lo que permite una mayor capacidad para mediciones de estabilidad.

El fabricante anuncia el analizador de ruido de fase 53100A para caracterización de osciladores de precisión que combina tecnologías de temporización en un instrumento de medición más pequeño y con mayor rendimiento.

Con unas dimensiones de 344 x 215 x 91 mm, el instrumento es lo suficientemente pequeño como para integrarse en los sistemas de fabricación de equipos de prueba automatizados (ATE), pero lo suficientemente potente como para metrología de grado en laboratorios.

Su interfaz proporciona compatibilidad con los comandos y el flujo de datos de los conjuntos de prueba 51xxA de Microchip, lo que reduce la necesidad de rediseñar la infraestructura ATE existente.

Finalmente, hay que mencionar que proporciona flexibilidad al permitir que un dispositivo de referencia de entrada se conecte a través del panel frontal a una frecuencia nominal diferente que el dispositivo bajo prueba, lo que permite una sola referencia para caracterizar una variedad de productos osciladores.

Los estándares de frecuencia de rubidio como el 8040C-LN de Microchip o un oscilador de cuarzo como el Oscilador de Cristal Ovenizado 1000C (OCXO) de Microchip podrían usarse como referencia, así como los osciladores precisos de otros fabricantes.

Periodista de corazón y redactora Jefe desde su fundación en la editorial técnica NTDhoy, S.L. así como freelance para otras publicaciones especializadas. Me gusta el mar, leer y divertirme con mi perro y mis amigos.

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