Gracias al nuevo analizador eficiente de espectro óptico el fabricante aumenta la eficiencia de la línea de producción de dispositivos ópticos activos para servicios 5G y servicios en la nube al reducir a la mitad los tiempos de evaluación.
Anritsu anuncia la comercialización del nuevo analizador de espectro MS9740B, que ha sido desarrollado para evaluar las características de salida de los dispositivos activos ópticos utilizados por los sistemas de comunicaciones ópticas.
Así, el modelo MS9740B mantiene la misma relación entre medida y sensibilidad, las mismas funciones y el mismo tamaño que su predecesor MS9740A, además de acortar los tiempos de procesamiento de las medidas en un 50%, mejorando así la eficiencia de la línea de producción al optimizar los ajustes del ancho de banda del receptor óptico. Esta mejora del rendimiento reduce los tiempos de inspección de dispositivos activos ópticos y aumenta la eficiencia de la línea de producción.
Se prevé que el despliegue de los servicios móviles 5G y comunicaciones en la nube de próxima generación aumente enormemente los volúmenes de tráfico de datos. Las redes de soporte para esta infraestructura experimentan un enorme incremento del tráfico en la red que exige potenciar la producción de módulos y acortar los tiempos de inspección para permitir una entrega puntual que es imprescindible para una rápida expansión y adopción de módulos ópticos con una mayor velocidad de transmisión a 10G, 100G y 400G bit.
Características en el analizador eficiente de espectro óptico de sobremesa
En principio, se caracteriza por su amplio rango dinámico, alta resolución y rápidas velocidades de barrido en un rango de la longitud de onda de 600 a 1750 nm. Pero, además, el dispositivo admite una entrada de fibra multimodo y es ideal para la fabricación y evaluación de módulos VCSEL en la banda de 850 nm.
También reduce los tiempos de procesamiento de las medidas hasta la mitad (ajuste del ancho de banda del receptor: 1 kHz o 200 Hz), superando al mismo tiempo los problemas la menor sensibilidad de medida provocados por la mayor velocidad de procesamiento.
