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Medidor de ruido wafer-level 1/f

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Medidor de ruido wafer-level 1/f ProPlus Design Solutions ha anunciado una versión actualizada de su sistema medidor de ruido wafer-level 1/f 9812D: el modelo 9812DX que, según la compañía, “ofrece mejoras en velocidad de análisis, resolución de sistema y cobertura de diferentes tipos de condiciones de medición y dispositivos”.

El 9812DX aumenta la velocidad entre tres y diez veces y la resolución otras diez veces en comparación con sistemas anteriores y puede gestionar tensiones de hasta 200 V y corrientes desde 0.1 nA.

Con un ancho de banda de 10 MHz, el 9812DX garantiza la precisión en la medición de ruido on-wafer. Los ingenieros también pueden comprobar ruido con una baja frecuencia desde 0.03 Hz.

El medidor de ruido wafer-level dota de una resolución de sistema para medidas on-wafer de 1×10-27 A2/Hz, diez veces más que su predecesor, con un tiempo de medición de menos de 10 s/bias.

Este analizador de ruido también se acomoda a un mayor rango de condiciones y dispositivos, incluyendo transistores MOSFET, FinFET, FD-SOI, de unión bipolares y de efecto campo de unión; fotodiodos, diodos láser y Zener; y numerosas resistencias (10 Ω y 10 MΩ). Además, soporta soluciones de alta y baja impedancia y trabaja con los nodos más avanzados, desde 14 y 16 nm a 7 y 10 nm.

Usos para el medidor de ruido wafer-level

Entre las aplicaciones para el 9812DX se encuentran monitorización de calidad de proceso y evaluación de plataforma, y caracterización de ruido de dispositivos y desarrollo de modelo SPICE.

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