Inicio Medidores de ruido Medidor de ruido wafer-level 1/f

Medidor de ruido wafer-level 1/f

775
0

Medidor de ruido wafer-level 1/f ProPlus Design Solutions ha anunciado una versión actualizada de su sistema medidor de ruido wafer-level 1/f 9812D: el modelo 9812DX que, según la compañía, “ofrece mejoras en velocidad de análisis, resolución de sistema y cobertura de diferentes tipos de condiciones de medición y dispositivos”.

El 9812DX aumenta la velocidad entre tres y diez veces y la resolución otras diez veces en comparación con sistemas anteriores y puede gestionar tensiones de hasta 200 V y corrientes desde 0.1 nA.

Con un ancho de banda de 10 MHz, el 9812DX garantiza la precisión en la medición de ruido on-wafer. Los ingenieros también pueden comprobar ruido con una baja frecuencia desde 0.03 Hz.

El medidor de ruido wafer-level dota de una resolución de sistema para medidas on-wafer de 1×10-27 A2/Hz, diez veces más que su predecesor, con un tiempo de medición de menos de 10 s/bias.

Este analizador de ruido también se acomoda a un mayor rango de condiciones y dispositivos, incluyendo transistores MOSFET, FinFET, FD-SOI, de unión bipolares y de efecto campo de unión; fotodiodos, diodos láser y Zener; y numerosas resistencias (10 Ω y 10 MΩ). Además, soporta soluciones de alta y baja impedancia y trabaja con los nodos más avanzados, desde 14 y 16 nm a 7 y 10 nm.

Usos para el medidor de ruido wafer-level

Entre las aplicaciones para el 9812DX se encuentran monitorización de calidad de proceso y evaluación de plataforma, y caracterización de ruido de dispositivos y desarrollo de modelo SPICE.


SERVICIO AL LECTOR gratuito para ampliar info de este producto

DEJA UNA RESPUESTA

Por favor ingrese su comentario!
Por favor ingrese su nombre aquí

Este sitio usa Akismet para reducir el spam. Aprende cómo se procesan los datos de tus comentarios.