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Módulos de unidad de medida de fuente

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Los nuevos módulos de unidad de medida de fuente para el analizador de parámetros Keithley 4200A-SCS resuelven desafíos de pruebas difíciles que involucran baja corriente y alta capacitancia resultando ideales para aplicaciones con alta capacidad de conexión de prueba o mediciones inestables de baja corriente.

Adler Instrumentos presenta, de la mano de su representada Tektronix, dos nuevos módulos de unidad de medida de fuente (SMU) para el analizador de parámetros Keithley 4200A-SCS que pueden realizar mediciones de baja corriente incluso en presencia de alta capacidad de carga debido a cables largos y configuraciones de prueba complejas.

Entre las aplicaciones de prueba notables que enfrentan este desafío están la fabricación de pantallas LCD y las pruebas de dispositivos nano FET.

Por esto, los nuevos 4201-SMU y 4211-SMU se diseñaron específicamente para configuraciones de prueba con cables largos, matrices de interruptores, contactos de compuerta al portabrocas y otros accesorios.

Dichas configuraciones de prueba, que se requieren en una serie de aplicaciones de medición de baja corriente, pueden aumentar la capacitancia vista en la salida de la SMU, a pesar de que el dispositivo bajo prueba en sí tiene una capacitancia muy baja.

Cuando la capacidad de conexión de prueba es demasiado alta, las mediciones de baja corriente resultantes pueden volverse inestables.

Para hacer frente a estos desafíos, los nuevos módulos pueden generar voltaje y medir corriente con cables más largos o más capacitancia de conexión que la posible utilizando las SMU tradicionales.

Esto ahorra a los investigadores y a los ingenieros de prueba de fabricación el tiempo y el costo que de otro modo se gastarían en la solución de problemas y la reconfiguración de las configuraciones de prueba.

Funcionamiento de los nuevos módulos de unidad de medida

Módulos de unidad de medida de fuente

En el rango de medición de corriente más bajo admitido, el 4201-SMU y el 4211-SMU pueden obtener y medir un sistema que es 1.000 veces más capacitivo de lo que es posible hoy en día.

Por ejemplo, si el nivel actual está entre 1 y 100 pA (picoamp), los nuevos módulos Keithley pueden ser estables con una capacidad de carga de hasta 1 µF.

En contraste, la capacidad de carga máxima que las unidades competitivas pueden tolerar antes de que la estabilidad de la medición se degrade es solo 1.000 pF, o 1.000 veces peor.

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