RS Components (RS) y Allied Electronics (Allied), marcas comerciales de Electrocomponents plc, el mayor distribuidor de productos y servicios de electrónica y mantenimiento a nivel mundial, anuncian que su representada Tektronix empieza a comercializar las series TBS1000B-EDU y TBS1000B de osciloscopios de dos canales, con display de 7” de alta resolución, contador de frecuencia de canal dual y 34 medidas automatizadas para responder a la demanda de entornos educativos y centros de investigación y desarrollo.
Ambas familias de osciloscopios de dos canales se caracterizan por ratio de muestra de hasta 2 GS/s para ofrecer un oversampling 10X en todos los canales, así como por rango de ancho de banda de 50 a 200 MHz y cinco años de garantía.
Osciloscopios de dos canales TBS1000-EDU
Los osciloscopios TBS1000-EDU son los primeros modelos de la industria con un sistema courseware diseñado para ayudar a los estudiantes en su aprendizaje y al personal docente en sus sesiones de laboratorio.
Los profesores pueden hacer que el contenido de sus ejercicios sea visible en el osciloscopio, mientras que los alumnos pueden capturar los resultados directamente desde el instrumento.
Para ampliar las opciones de aprendizaje, Tektronix está desarrollando un ecosistema que incluye software de edición courseware basado en PC y un apartado en su página web donde seleccionar y descargar contenidos para uso en el TBS1000B-EDU.
Los instructores también pueden utilizar esta plataforma para colgar material formativo visible en el osciloscopio y, por lo tanto, compartirlo con la comunidad educativa.
Osciloscopios de dos canales TBS1000B
Los modelos TBS1000B están especialmente indicados en I+D, procesos de fabricación, servicios de mantenimiento y reparación y aplicaciones de entusiastas de la electrónica.
Estos osciloscopios de dos canales han sido desarrollados para realizar tareas de medición de forma precisa, eficiente y conveniente.
A diferencia de la gama TBS1000-EDU, estas unidades poseen funcionales adicionales, como data logging, limit-test para definir máscaras “pasa / fallo” en señales complejas y TrendPlot para capturar y monitorizar pequeños cambios durante largos periodos de tiempo.
