Teledyne LeCroy anuncia hoy el lanzamiento de su nueva plataforma de osciloscopio de alta definición (HDO) de alto ancho de banda WaveMaster 8000HD con modelos de 20 a 65 GHz de ancho de banda, 12 bit de resolución, hasta 320 GS/s de frecuencia de muestreo y 8 gigapuntos (Gpts) de memoria de adquisición.
Así, el nuevo WaveMaster 8000HD conserva las incomparables capacidades de validación y depuración de su predecesor, al tiempo que agrega nuevas opciones de software de análisis de datos en serie SDA Expert para probar tecnologías de datos en serie de próxima generación.
Por otro lado, los nuevos osciloscopios de alto ancho de banda WaveMaster serie 8000HD brindan un rendimiento excepcional de caracterización de señales para tecnologías de datos en serie de próxima generación, como PCIe 6.0 y USB4 Especificación v2.0.
Para esto, duplica con creces el ancho de banda y la frecuencia de muestreo de su predecesor, y proporciona cuatro veces más resolución y memoria de adquisición en comparación con otros osciloscopios: una resolución de 12 bit, con ancho de banda y frecuencia de muestreo completos y hasta 8 Gpts de memoria de adquisición.
Esta resolución proporcionan una caracterización de señal excepcional de las señales PAM3 y PAM4 multinivel utilizadas en la especificación USB4 v2.0 y PCIe 6.0, respectivamente, y 8 Gpts mejoran significativamente la depuración de problemas de negociación de enlaces.
Experiencia integral en datos para caracterización y cumplimiento de normativas
Los nuevos osciloscopios WaveMaster 8000HD también brindan experiencia integral en datos en serie para la caracterización de la tecnología de datos en serie de próxima generación y la verificación del cumplimiento.
Las nuevas opciones de software SDA Expert brindan experiencia simplificada con análisis de tecnología personalizado para PCIe, USB, DisplayPort y más, además de contener poderosas herramientas PAM y de diagrama de ojo sin retorno a cero (NRZ), jitter y análisis de enlaces.
Los paquetes de pruebas QualiPHY proporcionan una automatización de pruebas de cumplimiento sencilla para interfaces de datos serie complejas de alta velocidad.
Todas estas capacidades de prueba de datos en serie son especialmente útiles para PCIe 6.0, USB4, especificación USB4 v2.0 y DisplayPort a través de USB-C de próxima generación.
