Sistema
La nueva plataforma de pruebas paramétricas con software KTE 7 para fabricación WBG, Keithley S530, maximiza el rendimiento de medida y minimiza los costes de los fabricantes en mercados emergentes de rápido crecimiento.
Tektronix, proveedor de soluciones de prueba y medida, lanza el nuevo Keithley Instruments S530 Series Parametric Test System con software KTE 7 y otras mejoras. Esta plataforma permite a los fabricantes de semiconductores añadir la capacidad de pruebas paramétricas para nuevas tecnologías y, al mismo tiempo, minimizar la inversión y maximizar la eficiencia de obleas por hora.
Los nuevos productos semiconductores basados en las tecnologías emergentes de banda prohibida ancha (WBG), como nitruro de galio (GaN) y carburo de silicio (SiC), pretenden ofrecer mejoras en velocidad de conmutación, rango de temperatura y eficiencia. Para satisfacer las necesidades de prueba de dichos productos, la plataforma S530 basada en KTE 7 dota de unas prestaciones de medida de grado laboratorio con mínimo tiempo de ajuste.
Las configuraciones flexibles de alta velocidad de hasta 1100 V pueden evolucionar al tiempo que las nuevas aplicaciones emergen y los requisitos cambian. Esto permite a los fabricantes de chips ampliar su oferta de dispositivos de potencia y WBG, incluyendo a los modelos dirigidos al sector del automóvil, con la ayuda de un sistema con mínima inversión.
“Los fabricantes de semiconductores de señal analógica y mixta continúan experimentando una fuerte demanda de nuevas aplicaciones en comunicaciones 5G, automoción, IoT, sanidad, energías renovables y otros mercados”, afirma Chris Bohn, vicepresidente y director general de Keithley/Tektronix. “Esta actualización de la plataforma de pruebas paramétricas ayuda a nuestros clientes a traer nuevos productos al mercado de una manera más rápida y económica, pudiéndose adaptar fácilmente a los requisitos del futuro”.
Aplicaciones para la nueva plataforma
Las innovaciones en la serie S530 aumentan la utilización de testeadores sobre una amplia variedad de productos y simplifican la migración de software de prueba y tarjetas de sonda, con correlación de datos total e incremento de velocidad.
Además, el modelo S530-HV respalda una prueba de hasta 1100 V en cualquier pin para poder aumentar el rendimiento un 50 por ciento en aplicaciones de potencia y WBG. Los fabricantes de chips pueden comprobar un buen número de productos con un solo sistema, incluso productos de automoción (IATF-16949).
La calibración se puede llevar a cabo en fábrica (con mínimo periodo de inactividad) o mediante una organización de servicio de Tektronix para un soporte personal y global.
Con todo lo mencionado, la nueva plataforma basada en KTE7 proporciona a los fabricantes de semiconductores una migración eficiente desde los sistemas S400 y S600 legacy, preservando la correlación de datos y una mejora de rendimiento (rapidez) de hasta el 25 por ciento (que las unidades S600).
