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Sonda óptica calibrada

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Nuevas posibilidades con la sonda óptica calibrada y software de análisis óptico PAM4 para osciloscopios en tiempo real.

Sonda óptica calibrada ADLER Instrumentos informa que su representada Tektronix ha introducido el nuevo DPO7OE1, una solución compuesta por una sonda óptica calibrada y un software de análisis para usarse con osciloscopios en tiempo real.

Su receptor de referencia óptica (ORR) es compatible con las aplicaciones PAM4 de 28-GBaud y soporta las medidas específicas del estándar IEEE/OIF-CEI.

Esta nueva solución complementa las herramientas de análisis PAM4 óptico de Tektronix para probar osciloscopios, dotando a los equipos de diseño de una alternativa eficiente en todas las fases del proceso de trabajo del transmisor óptico.

Basada en osciloscopios en tiempo real como los de la familia DPO70000SX, esta nueva oferta permite a los ingenieros de sistema e I+D realizar las tareas de localización y resolución de problemas (troubleshoot) en sus dispositivos ópticos al incorporar capacidades de depuración: recuperación de reloj de software para PAM4 y NRZ, triggering, detección de error y registro correlativo o continuo del tiempo de captura de una señal.

“Los formatos de modulación óptica avanzada como PAM4 requieren sistemas de test de osciloscopio de muestra y en tiempo real”, afirma Jan Filip, director de I+D de Maxim Integrated, fabricante de dispositivos ópticos de alta velocidad y bajo consumo para centros de datos.

“La nueva solución permite ofrecer funciones de depuración a los equipos de desarrollo y emular sistemas de receptor óptico usando algoritmos Matlab offline. Tektronix aporta la mejor alternativa posible de detección de osciloscopio en tiempo real y cumple nuestros estrictos requisitos de test PAM4. Por ello, es nuestro partner estratégico en plataformas de medición”.

Posibilidades con la nueva sonda óptica calibrada

El DPO7OE1 se caracteriza por ancho de banda de óptico de 33 GHz para aplicaciones de depuración PAM4 de 28-GBaud. También se puede emplear en proyectos NRZ legacy. Los paquetes de análisis soportan diversas mediciones ópticas como ER, AOP, OMA y altura y ancho de ojo, así como medidas específicas PAM4 IEEE y OIF-CEI, incluyendo TDECQ.

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