Inicio Comprobadores Sistema de pruebas paramétricas paralelas en obleas

Sistema de pruebas paramétricas paralelas en obleas

8511
0

Keysight Technologies anuncia el nuevo sistema de pruebas paramétricas en paralelo P9002A, que proporciona pruebas en obleas de alto rendimiento para acelerar la salida al mercado en I+D y un menor coste de pruebas en fabricación.

La escasez mundial de semiconductores ha creado una creciente demanda de semiconductores en la industria de automoción, así como en dispositivos digitales y electrodomésticos. La innovación en tecnología de semiconductores está progresando rápidamente, y la industria se enfrenta a una variedad de retos técnicos para adaptar nuevos materiales, así como los procesos de miniaturización y encapsulado 3D.

Adicionalmente, el complejo diseño de dispositivos para aplicaciones comerciales clave como 5G, centros de datos, inteligencia artificial (IA) y automoción está incrementando los parámetros de medida.

Para afrontar este reto y facilitar que los fabricantes puedan incrementar rápidamente su capacidad, Keysight ha desarrollado el nuevo sistema de pruebas paramétricas en paralelo P9002A, que ofrece pruebas en oblea efectivas en coste y de alto rendimiento, así como una estructura flexible de opciones para recursos de pruebas en paralelo de hasta 100 canales, incluyendo capacidades de pruebas requeridas para pruebas paramétricas en cada recurso de pruebas.

Además, proporciona compatibilidad con el software SPECS hacia los sistemas de medidas paramétricas de la serie 4080, que facilita que los clientes utilicen sus programas de pruebas actuales y sus planes de pruebas con correlación de datos.

Soluciones con las pruebas paramétricas paralelas en obleas

El nuevo sistema ofrece los siguientes beneficios clave a lso técnicos:

Sistema de pruebas paramétricas paralelas en obleas
  • Capacidad de agregar opciones basadas en requisitos de pruebas, con una estructura de licencias adaptada a un presupuesto de eficiencia en costes.
  • Tecnologías únicas de pruebas paramétricas y medidas rápidas de capacitancia que generan un rendimiento mejorado en los sistemas de medidas paramétricas de la serie 4080.
  • Compatibilidad de sistema y correlación de datos con los sistemas de pruebas paramétricas de la serie 4080 de Keysight, que facilita que los clientes utilicen sus programas actuales de pruebas, planes de pruebas y tarjetas de sondas con la tarjeta adaptadora de sondas compatible con el 4080 para minimizar el coste de construir un nuevo entorno de pruebas P9002A.

DEJA UNA RESPUESTA

Por favor ingrese su comentario!
Por favor ingrese su nombre aquí

Este sitio usa Akismet para reducir el spam. Aprende cómo se procesan los datos de tus comentarios.