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SMU de altas prestaciones

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SMU de altas prestacionesNational Instruments anuncia la SMU de altas prestaciones PXIe-4139, una adición de altas prestaciones a la cartera de SMUs de la compañía.

Esta SMU de altas prestaciones puede reducir el coste total de las pruebas y acelerar el tiempo de lanzamiento de productos al mercado por parte de los ingenieros de prueba y está dedicada a una amplia gama de industrias, desde semiconductores hasta la electrónica de automoción y consumo.

Cuenta con la tecnología NI SourceAdapt para ayudar a los ingenieros a producir una óptima respuesta de la SMU a cualquier carga mediante la personalización del bucle de control de la misma. Esto protege a los dispositivos bajo prueba y mejora la estabilidad del sistema.

Además, el sistema de SMU de altas prestaciones NI PXI -4139 puede tomar medidas a 1,8 Ms/s, lo cual es 100 veces más rápido que las SMUs tradicionales. Esto ayuda a reducir el tiempo de prueba y ofrece a los ingenieros la capacidad de capturar el comportamiento transitorio del dispositivo sin un osciloscopio externo.

Gracias a la SMU de altas prestaciones NI PXI-4139 los ingenieros y los científicos conseguirán amplios límites I-V, incluyendo una capacidad ampliada del rango de tensiones pulsadas de hasta 500 W y una sensibilidad de hasta 100 fA, que permitirá realizar pruebas de una amplia gama de dispositivos con un solo instrumento.

El tamaño compacto de la SMU NI PXI-4139 es también importante. Se puede reducir significativamente todo el tamaño del sistema en comparación con las SMUs tradicionales.

“Si se quiere mantener el ritmo de la creciente complejidad de la electrónica moderna es necesario redefinir el enfoque de la instrumentación.”

La tecnología SourceAdapt, junto con las ventajas inherentes a la instrumentación modular PXI y el software de diseño de sistemas NI LabVIEW, proporcionan a los ingenieros una ventaja competitiva en cuanto a la reducción de los tiempos de prueba y a la protección de los dispositivos bajo prueba.

Características principales de la SMU de altas prestaciones:

  • Sensibilidad en la medida de corrientes de 100 fA: Caracterización precisa de dispositivos semiconductores de altas prestaciones.
  • Frecuencia de muestreo de 1.8 MS/s: Captura características transitorias de los dispositivos sin un osciloscopio externo.
  • Hasta 17 canales de SMU en un espacio de rack 4U de 19 pulgadas: Minimiza el tamaño del sistema de prueba para sistemas con un número elevado de canales.
  • Tecnología SourceAdapt: Reduce los tiempos de los transitorios para mejorar los tiempos totales de la prueba y proteger el dispositivo bajo prueba de sobre impulsos y oscilaciones aún en el caso de cargas altamente inductivas o capacitivas.
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