Los módulos PXI y PXIe 41-770, 43-770, 41-625, 43-625 y 41-761A integran salidas analógicas, generación de formas de onda y simulación de termopares para pruebas funcionales y Hardware-In-the-Loop.
Los nuevos 41-770, 43-770, 41-625, 43-625 y 41-761A de Pickering Interfaces amplían la oferta de módulos de salida analógica PXI y PXIe para sistemas de prueba funcional y hardware-in-the-loop (HIL), con recursos de convertidor digital-analógico (DAC), generación de señales y simulación de sensores.
Dentro de un banco de validación electrónica, estos instrumentos permiten estimular controladores embebidos y dispositivos bajo prueba (DUT) mediante señales eléctricas controladas por software.
Además, la familia utiliza formatos PXI, PCI eXtensions for Instrumentation, y PXIe, PXI Express, por lo que encaja en arquitecturas modulares abiertas orientadas a medida, diagnóstico y automatización de ensayos.
Salidas DAC aisladas con 41-770 y 43-770
Los módulos 41-770 PXI y 43-770 PXIe incorporan hasta cuatro canales de salida analógica completamente aislados en una única ranura 3U.
Cada canal admite programación independiente en varios rangos de tensión y corriente, con salidas de tensión de hasta 40 V positivos y negativos y salidas de corriente de hasta 20 mA positivos y negativos.
Para ensayos de inyección de fallos, los módulos también simulan condiciones de circuito abierto, es decir, situaciones equivalentes a cableado defectuoso o fallo de sensor.
Por otro lado, la función de interbloqueo por hardware añade protección para el DUT y para el resto del sistema de prueba durante secuencias automatizadas.
Generación de formas de onda multicanal en PXI y PXIe
Los 41-625 PXI y 43-625 PXIe ofrecen hasta 32 canales de salida independientes en una sola ranura 3U, un dato relevante en plataformas con limitación de espacio.
Su rango de generación cubre desde corriente continua (DC) hasta 300 kHz, por lo que resulta adecuado para reproducir señales de acelerómetros y otros estímulos analógicos multicanal.
En concreto, cada canal dispone de bloques de memoria independientes para almacenar ondas sinusoidales, formas de onda estándar o formas arbitrarias definidas por el usuario.
La frecuencia puede ajustarse de forma instantánea bajo control de software mediante síntesis digital directa (DDS), lo que facilita barridos y perfiles dinámicos durante la validación.
Asimismo, las funciones de disparo permiten que eventos procedentes de otros instrumentos inicien la generación de onda o la ejecución de barridos de frecuencia.
Simulación de termopares 41-761A para validación de sensores
El 41-761A PXI se orienta a la simulación de salidas de termopar con resolución de nivel microvoltio e inserción de fallos integrada.
Mediante salidas de baja tensión de dos hilos e independientes, el módulo cubre los rangos de salida de los tipos de termopar más habituales.
También admite varias configuraciones de unión fría y gestiona correctamente tensiones de modo común para lograr una simulación de sensor a nivel eléctrico.
Con hasta 32 canales completamente aislados por ranura, la solución evita conmutación externa o expansión adicional en aplicaciones de alta densidad.
Integración en sistemas de test automatizado
En bancos de producción, pruebas funcionales, simulación HIL, monitorización de comportamiento electrónico e inyección de fallos, estos módulos reducen la dependencia de sensores físicos, cámaras ambientales o configuraciones manuales.
La disponibilidad de controladores para Windows y Linux facilita la integración con flujos de ensayo existentes en laboratorio y en líneas de validación.
Además, la interfaz de programación de aplicaciones (API) soporta C, Python, C#, MATLAB, Simulink y LabVIEW, junto con un panel frontal software para desarrollo y depuración.
Si necesitas más información técnica sobre los módulos PXI y PXIe 41-770 y 43-625 para Hardware-In-the-Loop, puedes escribirnos mediante un COMENTARIO. O bien utiliza nuestro SERVICIO AL LECTOR gratuito.
